文章为个人辛苦整理付费内容已加入原创侵权保护禁止私自转载。文章所在专栏《黑猫存储千问千答》存储芯片中test mode是什么意思测试模式的核心机制是通过设置特定的隔离引脚为隔离状态使存储器裸片NAND Flash与控制器裸片Controller电隔离。这样外部测试设备就可以通过专门的测试引脚直接控制和测试NAND闪存绕过内部控制器。测试模式的主要目的包括直接访问NAND闪存组件便于识别单个有故障的NAND存储器组件执行迭代测试包括写入测试数据样式、读回数据并进行比较在工厂测试中验证非易失性存储器的可靠性